Diseño e implementación de un programa de escritorio para indexar patrones de difracción obtenidos en un microscopio electrónico de transmisión

López López, Ulysses

Diseño e implementación de un programa de escritorio para indexar patrones de difracción obtenidos en un microscopio electrónico de transmisión

dc.carrera.ingenieria	Ingeniería en computación	es_ES
dc.contributor.author	López López, Ulysses
dc.date.accessioned	2024-11-22T15:43:52Z
dc.date.available	2024-11-22T15:43:52Z
dc.date.issued	2024-10-29
dc.description	Tesis que explica el diseño e implementación de un programa de escritorio para indexar patrones de difracción, para todo académico que le ayude en sus investigaciones. La tesis detalla el proceso para crear el programa denominado como PIPD-II, que es de software libre, además de contar con el manual de usuario y enlace para descargar dicho programa.	es_ES
dc.description.abstract	PIPD-II o mejor conocido como "Programa para indexar patrones de difracción II" es una propuesta para resolver el problema de indexar los patrones de difracción obtenidos directamente con el HTEM o a través de la FFT (transformada rápida de Fourier) de una zona selecta de una imagen obtenida con el mismo instrumento.	es_ES
dc.director.trabajoescrito	Herrera Becerra, Raúl
dc.identifier.citation	Interpretation of electron diffraction patterns, K.W. Andrews, D.J. Dyson, S.R. Keown, Hilger & Watts LTD, Plenum US, (1967), 5 – 129. Estructura de los sólidos, cristalografía, difracción y defectos, Meléndez Martínez Juan José, Badajoz, España: Universidad de Extremadura, (2021), 19 – 153. Indexing of electron diffraction spot patterns by computer, B. L. Rhoades, Microm, 6, (1975), 123-127. A computer program for unique indexing of electron diffraction patterns, W. Prantj, Erich-Schid, J. Appl, Cryst. 17, (1984), 39-42. Computer-Aided indexing of transmission electron diffraction patterns, Raymond P. Goehner and Prakash Rao, Metallography, 10, (1977), 415-424. JECP/PCED—a computer program for simulation of polycrystalline electron diffraction pattern and phase identification, X.Z. Li, Ultramicroscopy, 99, (2004), 257-261.A program for phase identification using diffractograms obtained from TEM structure images, R. Galicia, R. Herrera, J. L. Rius, C. Zorrilla, and A. Gómez, Revista Mexicana de Física, 59, (2013), 102-106.Francis A. Jenkins, Harvey E. White. Fundamentals of Optics. MacGraw-Hill Primls, (2001).DigitalMicrograph 3.4 User’s Guide,Gatan, Inc. (1999).Waseda Yoshio, Matsubara Eiichiro, Shinoda Kozo. X-Ray Diffraction Cristallography. Tokio, Japón: Universidad de Tohoku, (2011), 1 – 80.J. Kirkland Earl. Advanced Computing in Electron Microscopy. SpingerLink, (2010). Notas de Física, M. J. Yacamán y Alfredo Gómez, (1981), Instituto de Física, vol. 4 nº. 4. Nano phase characterization by transmission electron microscopy: experimental and simulation, Francisco Miguel Ascencio Aguirre, Lourdes Bazán-Díaz, Rubén Mendoza-Cruz, Alfredo Gómez Rodríguez, Cristina Zorrilla-Cangas, Raúl Herrera-Becerra, (2015), Materials Sciences and Applications, 6(11), pp. 935-942.	es_ES
dc.identifier.uri	http://www.ptolomeo.unam.mx:8080/xmlui/handle/RepoFi/19508
dc.language.iso	es	es_ES
dc.subject	Diseño de software	es_ES
dc.subject	Patrones de difracción	es_ES
dc.subject	Indexación	es_ES
dc.subject	Rayos x	es_ES
dc.subject	Programa de escritorio	es_ES
dc.title	Diseño e implementación de un programa de escritorio para indexar patrones de difracción obtenidos en un microscopio electrónico de transmisión	es_ES
dc.type	Tesis	es_ES